Absolute Tracker: Mittakaava

Korkealaatuisia mittauksia vaaditaan entistä enemmän tuotannon osa-alueilla, jotka aiemmin ovat ohittaneet laadunvarmistuksen, koska ne ovat yksinkertaisesti olleet liian suuria. Jotkut osat ja pinnat ovat yksinkertaisesti liian suuria jopa siirrettäville koordinaattimittauskoneille. Käyttökelpoisten tulosten tallentamiseen uhrautuva aika on yksinkertaisesti ollut liian pitkä mittauksilla saavutettavan parantuneen tuotelaadun hyödyntämiseen. Absolute Tracker- ja Absolute Scanner -tuotesarjojen tuoteuutuuksien ansiosta näin ei enää ole. Laserseurainmittaukset voidaan nyt tehdä suuremmassa mittakaavassa kuin koskaan aiemmin.

Leica Absolute Scanner LAS-XL on maailman ensimmäinen suuren mittakaavan 3D-laserskanneri. Samaa flying dot -periaatetta Leica Absolute Scanner LAS:n kanssa käyttävä LAS-XL lisää merkittävästi tuottavuutta mahdollistamalla mittaukset jopa 1 000 millimetrin päästä kohteen pinnasta ja jopa 600 millimetriä leveällä skannauslinjalla. Tämän ansiosta mittausprosessi on jopa kolme kertaa nopeampi kuin tavallisella 3D-laserskannerilla, ja silti varmistetaan laaduntarkkailutason tarkkuus jopa 150 mikronin tarkkuudella. Tämän ansiosta LAS-XL on täydellinen ratkaisu suurten, vähemmän yksityiskohtia helppopääsyisissä paikoissa sisältävien osien ja pintojen mittaukseen, sekä syviä onteloita ja muita vaikeapääsyisiä alueita sisältävien osien mittaukseen.

Leica Absolute Tracker ATS600 on edelläkävijä metrologian laitteistojen maailmassa – se on maailman ensimmäinen suoran skannauksen laserseurain. Skannaavan absoluuttisen etäisyysmittarin uraauurtavaan tekniikkaan perustuva ATS600 kykenee paikallistamaan pisteen 3D-avaruudessa ilman minkäänlaista tähystä mittauspisteessä. Tällä toiminnolla se voi määrittää digitaalisesti suuren pinnan jopa 60 metrin päästä vain 300 mikronin tarkkuudella – ennennäkemätöntä tarkkuutta tällaiselta suuren mittakaavan kosketuksettomalta mittaustyökalulta. Tämän lisäksi järjestelmä mahdollistaa vain olennaisen kohdemittausalueen valikoivan skannauksen – ei siis tarvetta täyskeilauksen käsittelylle ennen mitattavaa kohdetta koskevien tietojen ulos kaivamista.

Metrologian kasvavaa mittakaavaa ajatellen suunnitelluilla mittausjärjestelmillämme voit viedä huippuluokan mittaukset täysin uusille tuotannon ja kokoonpanon alueille.