HP-OW 광학 센서

다양한 표면 마감을 위한 유연한 백색광 스캐닝

HP-OW 센서는 백색광 분광법을 사용하여 폭넓은 응용 분야에서 다양한 표면 마감에 대해 매우 정확한 측정을 수행합니다. 

이 센서는 나노미터 범위의 분해능을 달성하면서 밀리미터 단위 측정 범위를 제공합니다. 최대 ±30°의 넓은 수용 각도와 결합하여 매우 다양한 측정 가능성을 제공하므로 작은 물체부터 넓은 표면까지 모든 것을 측정하는 데 이상적입니다.

HP-OW 프로브는 세 가지 타입으로 사용할 수 있어 다양한 측정 범위, 작동 거리 및 기타 측 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. HR-R 센서 랙과 함께 사용하면 검사 사이클 시간이 크게 단축됩니다.

CMM을 멀티 센서 시스템으로 전환하기

HP-OW 광학 센서와 함께 접촉식 센서가 장착된 CMM을 사용하면 높은 측정 유연성을 제공합니다.

유광, 무광, 투명 표면 측정

HP-OW 센서는 다양한 표면을 측정해야 하는 과제를 쉽게 해결할 수 있습니다.

파손되기 쉬운 재료에 대한 높은 정확도

HP-OW 센서는 고정확도의 비접촉식 측정 검사를 제공하여 손상이나 번형을 방지합니다.

Adaptable automated measurement using Hexagon GLOBAL S CMM & HP-OW optical sensor

HP-OW optical sensors: white light scanning for coordinate measuring machines


The power of non-contact #multisensor #measurement on a coordinate measuring machine


특징 및 장점

Solution고난도 측정 분야에 적합한 솔루션

HP-OW는 고유한 측정 원리와 다양한 측정 크기 덕분에 광택 있는 표면, 유리 및 기타 투명/반사 또는 민감한 재료와 같이 일반적으로 측정하기 까다로운 응용 분야에 사용할 수 있습니다. 또한 HP-OW는 작업물의 두께를 측정할 수 있습니다.

Artefact나선형 스캔 보정


여러 측정 지점을 개별적으로 캡처하는 대신 HP-OW가 보정 구 위에서 나선형으로 작동하므로 처리 시간이 크게 단축됩니다. 매개 변수는 PC-DMIS에 의해 자동으로 선택됩니다.

Transfer자동 프로브 교체 


프로브 헤드와 함께 HP-OW 센서를 서로 다른 헥사곤 센서와 측정 프로그램 중에 교체할 수 있으므로 유연성이 극대화됩니다. 

CMM-Icon호환성 


HP-OW 센서는 Global S 및 OPTIV M 장비를 포함한 대부분의 헥사곤 3차원 측정기에 호환됩니다. 또한 광학 프로브 헤드, SENMATION 센서 교체 인터페이스, HR-R 센서 랙 및 PC-DMIS 소프트웨어와도 호환됩니다. 

Light-Bulb정교한 치수 측정 원리 

백색광은 광학 프로브를 통해 전달되며 표면은 프로브와의 공초점 거리에 따라 특정 파장을 반사합니다. 높은 샘플링 속도가 높은 정확도를 보장합니다. 이 기술을 사용하면 거의 모든 재질을 측정할 수 있으며 두께, 표면 지형, 난형도 거칠기 또는 형태를 측정할 수도 있습니다.

  • 기술 데이터
       HP-OW2.14  HP-OW-2.61  HP-OW-3.22
     항목 번호  03939638  03939637  03939639
     프로브 크기 오류*
     (P|Size.Sph.1x25:Tr:ODS)
     4 µm  5 µm  6 µm
     측정 범위 (mm)  2   2  3
     작업 거리 [mm]  14  61  22
     Z 방향 분해능 [nm]  66 66  100
     스폿 지름 [μm]  12  12  12
     측면 분해능 [μm]  6   6  6
     최대 두께 범위 [mm]  3  3   4.5
     무게 (g)  460   600  720
     센서 장착 호환성  HH-AS8-OWT2.5
     HH-F-OWT
     HH-AS8-OWT2.5
     HH-F-OWT
     HH-F-OWT
  • 응용 분야

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