Capteurs optiques HP-OW
Scanning flexible à lumière blanche pour diverses finitions de surface
Êtes-vous prêt à commencer ?
Le capteur a une plage de mesure de plusieurs millimètres et offre une résolution nanométrique. En combinaison avec un grand angle de réception (jusqu'à ±30°), il permet de nombreuses configurations de mesure et peut être utilisé aussi bien pour relever de petites caractéristiques que de grandes surfaces.
Les palpeurs HP-OW sont disponibles en trois versions et s'adaptent ainsi à différentes plages de mesure, distances de travail et autres exigences métrologiques. En combinaison avec le rack de palpeur HR-R, les cycles d'inspection deviennent nettement plus courts.
Turn your CMM to a multi-sensor system
Measure mirror-finished, matte and transparent surfaces
Highly accurate on fragile materials
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Spécificités et avantages
Parfait pour des applications de mesure complexes
Grâce au principe de mesure unique et à la grande plage de dimensions, le capteur HP-OW convient à des applications de mesure complexes, comme les surfaces brillantes, en verre et autres matériaux transparents/réfléchissants ou sensibles . Par ailleurs, le capteur HP-OW peut mesurer l'épaisseur des zones de pièce.Calibrage de scan en spirale
Au lieu de relever de nombreux points de mesure séparément, le HP-OW exécute des mouvements en spirale au-dessus de la sphère de calibrage, ce qui réduit nettement le temps de traitement. Les paramètres sont automatiquement sélectionnés par PC-DMIS.Changement de palpeur automatique
En combinaison avec une tête de mesure, le capteur HP-OW peut être remplacé pendant le programme de mesure par différents capteurs Hexagon pour offrir une flexibilité maximale.
Compatibilité
Les capteurs HP-OW sont conçus pour être utilisables sur la plupart des machines à mesurer tridimensionnelles Hexagon, y compris les modèles GLOBAL S et OPTIV . Ils se combinent aussi avec des têtes de mesure optiques, l'interface de changement de capteur SENMATION, le rack de capteurs HR-R et le logiciel PC-DMIS.Principe de mesure dimensionnelle élaboré
La lumière blanche est transmise à la surface par le capteur optique. Sur la base de la lumière réfléchie, jusqu'à 65 000 points/seconde peuvent être mesurés de façon précise. Comme les mesures s'effectuent à la vitesse de la lumière, les données ne sont pas affectées par les vibrations ou les conditions ambiantes. Cette technologie permet de mesurer pratiquement tout matériau et peut aussi être utilisée pour relever l'épaisseur, la topographie, la rugosité ou la forme de surfaces. -
Caractéristiques techniques
HP-OW2.14 HP-OW-2.61 HP-OW-3.22 Référence 03939638 03939637 03939639 Erreur dimensionnelle de palpage*
(P|Tail.Sph.1x25:Tr:ODS)4 µm 5 µm 6 µm Plage de mesure (mm) 2 2 3 Distance de travail [mm] 14 61 22 Résolution dans l'axe Z [nm] 66 66 100 Diamètre de point [μm] 12 12 12 Résolution latérale [μm] 6 6 6 Résolution latérale [μm] 3 3 4,5 Poids (g) 460 600 720 Capteurs compatibles HH-AS8-OWT2.5
HH-F-OWTHH-AS8-OWT2.5
HH-F-OWTHH-F-OWT -
Téléchargements
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Applications originales
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