Sensores ópticos HP-OW

Escaneo flexible de luz blanca para múltiples acabados de superficie

El sensor HP-OW usa espectroscopía cromática de luz blanca para obtener mediciones de muy alta precisión en una gran variedad de acabados de superficie en una amplia gama de aplicaciones. 

El sensor tiene un alcance de medición de varios milímetros y tiene una resolución nanométrica. En combinación con un gran ángulo de aceptación de hasta ±30°, ofrece múltiples y muy versátiles posibilidades de medición que lo hacen ideal para medir cualquier objeto, desde pequeños elementos hasta grandes superficies.

Los sensores HP-OW están disponibles en tres variaciones, que permiten adaptarse a diferentes alcances de medición, distancias de trabajo y otros requerimientos de metrología. Al combinarlo con el bastidor para sensor HR-R, el tiempo de ciclo de inspección se reduce considerablemente

Cambie su MMC a un sistema multisensor

Al usar una MMC equipada con sensores táctiles junto con sensores ópticos HP-OW, se garantizan los más altos niveles de flexibilidad en la medición.

Medición de superficies con acabado especular, mate y transparente

Los sensores HP-OW superan con facilidad el desafío de medir diferentes superficies.

Gran precisión en materiales frágiles

Los sensores HP-OW evitan el daño o la deformación al ofrecer una inspección de medición crítica sin contacto que destaca en precisión.

Adaptable automated measurement using Hexagon GLOBAL S CMM & HP-OW optical sensor

Sensores ópticos HP-OW: escaneo con luz blanca para máquinas de medición por coordenadas


The power of non-contact #multisensor #measurement on a coordinate measuring machine


Características y ventajas

SolutionPerfecto para aplicaciones desafiantes de medición

Gracias a su principio exclusivo de medición y a la gran variedad de tamaños, es posible usar el HP-OW para aplicaciones que generalmente representan desafíos para la medición, como superficies brillantes, vidrio y otros materiales transparentes, reflectivos o sensibles. Además, el HP-OW puede medir el grosor de las áreas de la pieza.

ArtefactCalibración de escaneo en espiral


En vez de capturar múltiples puntos de medición por separado, el HP-OW ejecuta espirales sobra la esfera de calibración, lo que resulta en una reducción considerable del tiempo del proceso. Los parámetros se eligen automáticamente por PC-DMIS.

TransferIntercambio automático de sensor

En combinación con un cabezal de sensor, es posible intercambiar el sensor HP-OW durante el programa de medición con diferentes sensores de Hexagon para alcanzar los mayores niveles posibles de flexibilidad. 

CMM-IconCompatibilidad


Los sensores HP-OW están diseñados para adaptarse a la mayoría de las máquinas de medición por coordenadas de Hexagon, que incluyen las máquinas GLOBAL S y OPTIV M. También es compatible con cabezales de sensores ópticos, la interface para cambio de sensor SENMATION, el bastidor para sensor HR-R y el software PC-DMIS.

Light-BulbSofisticado principio de medición dimensional

Se transmite luz blanca a través del sensor óptico hacia la superficie. Basado en la luz reflejada, es posible obtener hasta 65 000 puntos de medición por segundo con gran precisión. Ya que las mediciones se efectúan a la velocidad de la luz, los datos no se ven afectados por vibraciones o condiciones ambientales. Esta tecnología hace posible medir casi cualquier material y también se puede usar para medir el grosor, la topografía de la superficie, ovalidad, rugosidad o forma.

Información del producto