Sensori ottici HP-OW

Scansione flessibile a luce bianca per molteplici finiture superficiali

Volete saperne di più?

Il sensore HP-OW utilizza la spettroscopia cromatica a luce bianca per effettuare misure molto accurate su diverse finiture superficiali in un'ampia gamma di applicazioni. 

Il sensore ha una corsa di misura di diversi millimetri e risoluzione nella gamma nanometrica. In combinazione con un ampio angolo di accettazione fino a ±30°, offre possibilità di misura molto versatili, adattandosi perfettamente a qualsiasi oggetto, dai piccoli pezzi alle grandi superfici.

I sensori HP-OW sono disponibili in tre varianti e ciò li rende adatti a diverse corse di misura, distanze operative e altri requisiti di misura. Se abbinato al rack di sensori HR-R, il tempo del ciclo di verifica si riduce notevolmente.
Un rack di sensori che ne contiene tre. Al centro c'è un sensore a contatto e ai lati di esso ci sono dei sensori di scansione a luce bianca senza contatto

Trasformate la vostra CMM in un sistema di visione multisensore
L'utilizzo di una CMM dotata di tastatori insieme ai sensori ottici HP-OW assicura la massima flessibilità di misura.
Scannercustodia di un telefono cellulare montato su un Sensore cromatico a luce bianca che misura il coperchio di un telefono cellulare montato su un sistema di attrezzaggio

Misura di superfici a specchio, opache e trasparenti
I sensori HP-OW superano senza problemi la sfida rappresentata dalla misura di superfici diverse.
Un primo piano di un sensore senza contatto HP-OW che misura un filo color rame

Elevata precisione su materiali fragili
I sensori HP-OW evitano i danni o le deformazioni consentendo misure senza contatto con una precisione straordinaria.

Adaptable automated measurement using Hexagon GLOBAL S CMM & HP-OW optical sensor

HP-OW optical sensors: white light scanning for coordinate measuring machines


The power of non-contact #multisensor #measurement on a coordinate measuring machine


Caratteristiche e vantaggi

SolutionPerfetto per applicazioni di misura complesse

Grazie al suo principio di misura unico e all'ampia gamma di dimensioni, l'HP-OW può essere utilizzato per applicazioni che di solito presentano misure complesse, come superfici lucide, vetro e altri materiali trasparenti/riflettenti o sensibili. Inoltre l'HP-OW può misurare lo spessore delle sezioni del pezzo.

ArtefactCalibrazione con scansione a spirale


Al posto di acquisire più punti di misura separatamente, l'HP-OW si muove a spirale sulla sfera di calibrazione, con una conseguente notevole riduzione del tempo di processo. I parametri sono selezionati automaticamente da PC-DMIS.

TransferSostituzione automatica del sensore

In combinazione con una testa di misura, il sensore HP-OW può essere sostituito durante il programma di misura con svariati sensori Hexagon per ottenere la massima flessibilità possibile. 

CMM-IconCompatibilità


I sensori HP-OW sono progettati per adattarsi alla maggior parte delle macchine di misura a coordinate Hexagon, comprese le GLOBAL S e le OPTIV M. È anche compatibile con le teste di misura ottiche, con il sitema di cambio testa SENMATION, il rack di sensori HR-R e il software PC-DMIS.

Light-BulbSofisticato principio di misura dimensionale

La luce bianca è trasmessa attraverso il sensore ottico alla superficie. Sulla base della luce riflessa, si possono rilevare fino a 65.000 punti di misura precisi al secondo. Poiché le misure sono effettuate alla velocità della luce, i dati non sono interessati dalle vibrazioni o dalle condizioni ambientali. Questa tecnologia permette di misurare quasi tutti i materiali e può essere utilizzata anche per misurare lo spessore, la topografia della superficie, l'ovalizzazione, la rugosità e la forma.

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