Sensore a contatto per la rugosità PROFILER R

Sensore a contatto per misura di rugosità su CMM

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Consentendo verifiche semplici e rapide del profilo della superficie all'interno di un normale programma per macchina di misura a coordinate (CMM), il sensore miniaturizzato di rugosità PROFILER R offre un'alternativa più precisa alle misure manuali della rugosità.

Misurando tutti i comuni parametri della rugosità, PROFILER R può essere cambiato automaticamente con diversi sensori di scansione, aggiungendo al programma la verifica del profilo della superficie senza necessità di rimuovere e riposizionare il pezzo in misura.

PROFILER R è un sensore miniaturizzato di rugosità che offre un metodo di verifica a contatto di superfici su CMM Leitz. Aggiungendo ulteriori funzioni alle misure e valutazioni tipiche della macchina, fa sì che la verifica del profilo diventi una componente standard della messa a punto della qualità, garantendo così il controllo di tutti i parametri del pezzo. I tempi di movimentazione e cambio utensie vengono ridotti, il che consente un processo per l'assicurazione qualità molto più efficiente.

Progettato per misurare unitamente a una gamma di sensori di scansione, PROFILER R ha il proprio sistema di bloccaggio. Grazie al metodo di integrazione unico, il cambio utensile può essere eseguito automaticamente con un sistema di cambio utensile standard. La precisione di posizionamento è molto elevata e il rilevamento è controllato senza il rischio di errori o variabilità dovuta all'operatore, come potrebbe invece avvenire con dispositivi manuali di misura della rugosità.

Con la possibilità di ruotare di 360° e di essere orientato di 180°, il PROFILER R offre massima flessibilità e accessibilità. Dopo che l'adattatore del supporto ha toccato il pezzo, lo stilo si estende e si muove lungo la superficie per rilevare i dati di misura mentre PROFILER R rimane fermo per tutta la misura.

  • Caratteristiche e vantaggi

    Cambio automatico del sensore
    PROFILER R è un complemento ai sensori di scansione per CMM esistenti. Può essere cambiato automaticamente sulla testa di misura in uno stesso programma, riducendo così i tempi di trasporto e messa a punto e aumentando l'efficienza.

    Asse integrato di rotazione e orientamento
    Con lunghezza di misura fino a 15 mm, capacità di rotazione di 360° e di orientamento di 180°, PROFILER R semplifica la programmazione e massimizza l'accessibilità al pezzo, riducendo così il lavoro dell'operatore.

    Altissima precisione di posizionamento
    L'integrazione del PROFILER R con la testa di misura offre un'eccellente precisione di posizionamento, riducendo al minimo il margine di errore rispetto al profiling manuale, e rendendo superflui ulteriori strumenti.

    Funzionamento wireless
    PROFILER R viene alimentato direttamente dalla testa di misura e la sua trasmissione dati wireless aumenta la sua flessibilità.

    Un protocollo per tutti i risultati
    PROFILER R è ottimizzato per l'uso con il modulo rugosità QUINDOS e i risultati si possono integrare direttamente con le misure effettuate da altri sensori. La misura di rugosità può essere parte dello stesso programma di misura e dello stesso rapporto di collaudo, unitamente agli altri risultati.

    Analisi conforme alle norme industriali
    Supportando tutti i comuni parametri di rugosità secondo le norme DIN EN ISO 4287 e DIN EN ISO 13565, compreso il valore di rugosità medio aritmetico (Ra), l'altezza del profilo della rugosità media (Rz) e l'ampiezza media degli elementi del profilo (RSm), PROFILER R si integra perfettamente nell’insieme degli strumenti per l'assicurazione della qualità.

  • Dati tecnici
     Principio di misura  Metodo profilo di contatto (sistema area di referimento)
     Sezione di misura  Max. 15 mm
     Raggio stilo  2 μm (5 μm su richiesta)
     Gomito stilo  90°
     Filtro  Gauss*
     Asse integrato  Rotanto: 360°
     Orientabile: 180°
     Peso  630 g
     Software  QUINDOS
     Norme di valutazione  Conforme a ISO 4287 / 13565
     Parametri di rugosità
    (Raggio stilo 2 μm) 
     Rz, Rt: Fino a 10 µm
     Ra: da 50 nm a 2 µm
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