PROFILER R Tactiele ruwheidssensor
Tactiele sensor voor ruwheidsmetingen op CMM's
Klaar om te beginnen?
De PROFILER R is een miniatuur ruwheidssensor die een tactiele oppervlakte-inspectiemethode biedt voor Leitz CMM's. De sensor voegt nieuwe meetopties toe aan de gebruikelijke metingen en evaluaties van de machine. Profielinspecties kunnen een vast onderdeel van de kwaliteitscontrole gaan vormen, zodat alle relevante parameters van het werkstuk worden gecontroleerd. Transport- en overschakeltijden worden gereduceerd, zodat een veel efficiënter proces mogelijk wordt voor kwaliteitsbeheer.
Met de mogelijkheid 360° te kunnen draaien en 180° te kunnen kantelen, biedt de PROFILER R maximale flexibiliteit en toegankelijkheid. Zodra de stylushouder het werkstuk aanraakt, wordt de meetstylus uitgeschoven en beweegt over het oppervlak waarbij de meetdata wordt verzameld, terwijl de PROFILER R zelf gedurende de meting onbeweeglijk stil blijft staan.
-
Kenmerken en Voordelen
Automatische sensorwisseling
Bestaande scansensoren voor CMM's aanvullend, kan de PROFILER R automatisch op een meetkop worden gekoppeld om in hetzelfde programma te meten, waardoor de transport- en insteltijden worden gereduceerd en de efficiëntie wordt verhoogd.
Geïntegreerde rotatie- en kantelas
Met een meetlengte tot 15 mm en de mogelijkheid om 360° te roteren en 180° te kantelen, maakt de PROFILER R programmeren eenvoudig en maximaliseert hij de toegankelijkheid naar de onderdelen voor een lagere belasting voor de operator.
Zeer hoge positioneernauwkeurigheid
De PROFILER R's integratie van de meetkop biedt een uitstekende positioneernauwkeurigheid, minimaliseert de foutenmarge vergeleken met handmatig profileren en maakt extra tools overbodig.
Draadloze bediening
Met een stroomvoorziening via de meetkop voor eenvoudig verwisselen, vergroot de draadloze dataoverdracht van de PROFILER R de flexibiliteit als een meettool.
Eén rapport voor alle resultaten
De PROFILER R is geoptimaliseert voor gebruik met de QUINDOS ruwheidsmodule, en resultaten kunnen rechtstreeks teruggeleid worden naar de metingen genomen door andere sensoren binnen hetzelfde programma voor het genereren van één rapport voor alle resultaten.
Analyse volgens industriële normen
De PROFILER R ondersteunt alle bekende ruwheidsparameters conform DIN EN ISO 4287 en DIN EN ISO 13565 normen, inclusief de rekenkundig gemiddelde ruwheidswaarde (Ra), de gemiddelde hoogte van het ruwheidsprofiel (Rz) en de gemiddelde breedte van profielelementen (RSm) en past daarmee naadloos in een kwaliteitscontrolesysteem. -
Technische Gegevens
Meetprincipe Contactprofielmethode (referentieoppervlaksysteem) Meetsectie Max. 15 mm Stylusradius 2 µm (5 µm beschikbaar op aanvraag) Styluselleboog 90° Filter Gauss* Ingebouwde as Rotatie: 360°
Kantelen: 180°Gewicht 630 g Software QUINDOS Evaluatienormen Conform ISO 4287 / 13565 Ruwheidsparameters
(stylusradius 2 µm)Rz, Rt: tot 10 µm
Ra: 50 nm tot 2 µm -
Downloads
-
Koop CMM-accessoires online!
Koop CMM-accessoires online!
Kies eenvoudig uw accessoires en profiteer van snelle levering met UPS