PROFILER R Tactile Roughness Sensor
CMMの表面粗さ測定用触覚センサー
準備はいいですか？
通常の表面粗さパラメータを測定し、PROFILER Rは、異なるスキャニングセンサーと自動的に交換ができます。再クランプの手間の必要もなく、プログラムに表面形状検査が加わります。
PROFILER Rは、Leitz CMM用に接触表面検査メッソドを提供する小型表面粗さセンサーです。一般的な測定と評価に、更なる機能を追加して特性検査が品質設定の標準装備となることが可能。ワークの関連パラメータのチェックを確実にします。交換や切り替え時間が削減されて、品質保証の効率をさらに高めることができます。
各種のスキャニングセンサーと共存して測定する目的で設計。PROFILER Rは、独自のクランプシステムを備えています。ユニークな一体化メソッドで、標準のツールチェンジャーを使用して、ツール交換が自動的に実現。エラーのリスクや、手動の表面粗さ計にありがちなオペレーターによる差異もありません。
360° 回転と190°旋回機能で、PROFILER Rは最大限度のフレキシビリティとアクセス性を発揮。対応アダプターがワークに接触した後、計測スタイラスが伸びて、表面に沿って移動し測定、PROFILER R自身は、測定プロセス中は継続してデータを収集致します。
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製品特長Automatic sensor exchange
現状のCMM用スキャニングセンサーを補完し、PROFILER Rは、同じプログラムで、自動的にプローブヘッドと交換し測定します。移送や設定時間削減し、効率を高めます。
一体化された回転、旋回軸
最大15mmの測長、360°の回転、180°の旋回機能を装備。PROFILER Rはプログラムを簡単にして、部品の 接近性を最大化。オペレーターの作業負担を減らします。極めて正確な位置決め精度
PROFILER Rは、プローブヘッドとの一体化により、優れた位置決め精度を実現。手動のものと比べて、誤差を最小化して、追加ツールを不要にします。ワイヤレスオペレーション
プローブヘッドの動力供給で、簡単ツール交換。PROFILER Rのワイアレスデータ転送は測定ツールとしてのフレキシビリティを加速します。すべての結果を一つのレポートに
PROFILER Rは、QUINDOS表面粗度モジュールとの使用で最大の効果を発揮します。結果は、同じプログラム内で他のセンサーで計測されたデータと両立が可能。すべての結果がひとつのレポートにまとめられます。業界規格に準じた解析結果
計算上の平均表面粗さ値(ra)、平均表面粗さ計状高さ(Rz), 及び形状要素平均幅(Rsm)を含む、
DIN EN ISO 4287 and DIN EN ISO 13565に対する共通の面粗度パラメータのすべてに対応
PROFILER Rは品質保証の設定に、途切れなく一体化を実現します。 -
テクニカルデータ
測定原則 接触プロファイルシステム (リファレンスエリアシステム) 測定部分 Max. 15 mm
スタイラス半径 2 μm は要求あり次第提供) スアイラスエルボー 90° フィルター ガウス* I内蔵軸 回転: 360°
旋回: 180°
質量 630 g ソフトウェア QUINDOS 評価規格 ISO 4287 / 13565規格に準拠 表面粗さパラメータ
(スタイラス半径2 μm)
Rz, Rt: 最大 10 µm
Ra: 50 nm 最大 2 µm -
ダウンロード資料
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