Inspire: palpage et scanning

Inspire dispose des modes de mesure adaptatifs qui réduisent l’interaction avec le logiciel afin que les modes de mesure optimisent leur mesures et passent moins de temps à naviguer dans le programme. Les données de palpage et les nuages de nuages scannés sont mesurés et traités de la même façon afin de simplifier encore plus les opérations d’analyse. Les deux méthodes de collecte de données présentent des avantages uniques. Inspire a créé un flux de travail unifié tout en soulignant les avantages spécifiques de chaque méthode.



Pour les systèmes qui offrent à la fois des capacités de palpage contact et scanning, Inspire propose des transitions transparentes entre la collecte de chaque type de données, qui ne nécessitent souvent que le basculement d’un interrupteur sur l’instrument ou un geste unique pour déclencher le changement de mode d’acquisition des mesures. Les interfaces de mesure pour le scanning et le palpage sont presque identiques dans leur aspect, ainsi que dans leur fonctionnalité.

L’efficacité est améliorée, car il n’y a pas de modules distincts vers lesquels déplacer votre projet lorsque vous travaillez avec différents types de données. Les opérations de mesure et d’analyse des données de scanning et de palpage peuvent être effectuées dans la même instance d’Inspire, ce qui contribue à créer un flux de travail rationalisé et intuitif.